三次元ナノ組織可視化装置講習会 |
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内容 | 福井大学産学官連携本部及びふくい産学官共同研究拠点では、企業や学内の研究者を対象に、年間数回の講習会を予定しております。 各講習会は基本的に、設置されている分析機器の利用法を実際に体験しながら身に着けていくと同時に、研究開発に利用することが可能であるかどうかを確認していただくことを目的としています。興味がおありの方はご参加ください。 現在予定されている講習会は以下の通りです。これ以外にも順次、保有・管理する機器についての講習会の開催を予定しております。ホームページやメール配信などによりお知らせしていきますので、是非こうした機会をご活用ください。 ◆日時:平成23年7月29日(金) 午後1時から4時まで ◆場所:ふくい産学官共同研究拠点(福井大学産学官連携本部内) ◆装置の名称:東芝IT TOSMICRON-SH6160nIN ◆装置の概要 マイクロフォーカスX線による3次元ナノ構造の非破壊可視化装置は、多数の連続断面を撮影することで、微細なキズや形状、位置等の3次元解析が可能です。小型化、高集積化、高性能化が進んでいる電子部品、半導体パッケージ等の検査から一歩進んだ「もの作り」にも活用できます。 ◆講習内容(予定) 「電子部品、基板などの不良解析について」 ・X線CTでの検査と品質管理。 ・サンプル撮影と操作説明。 ◆お申込み・問い合わせ先 講習会へのお申し込みは、受講をご希望になる方の氏名と所属をふくい産学官共同研究拠点までメール又は電話でお知らせください。 なお、希望者が多数の場合には調整させていただく場合がありますので、ご了承ください。参加費は無料です。 |
開催期間 | 2011年07月29日 |
有料/無料 | 無料 |
種別 | 研修会 |
テーマ | 技術・技能 |
問い合わせ先 |
福井大学産学官連携本部、ふくい産学官共同研究拠点 長谷川、白崎 TEL:0776-27-9795 FAX:0776-27-9795 E-mail:kyoten ![]() |
情報提供機関 | 福井県産業情報ネットワーク |
更新日 | 2011年07月20日 |